Estudio del comportamiento ante fallas en memorias EEPROM aplicadas en dispositivos RFID/NFC

Abstract

La investigación consiste en identificar fallas en el funcionamiento de memorias EEPROM, específicamente aquellas implementadas en las tarjetas Mifare Ultralight. Un bloque de la memoria EEPROM de las mencionadas tarjetas funciona como “OTP” (One Time Programmable). OTP es un tipo de memoria no volátil que permite escribir por única vez el valor para cada bit en uno lógico, sin posibilidad de ser reprogramada en cero nuevamente. Esta memoria se implementa a través del uso de fusibles a los que, una vez utilizados, no sería posible devolverles el estado anterior. Ciertos fabricantes implementan la memoria OTP a través de un conjunto de técnicas con compuertas lógicas, es decir, no incluyen verdaderos fusibles; sino que, diseñan una lógica interna que simula el comportamiento OTP detallado anteriormente con el esquema de memoria que ya se dispone. La posibilidad de simular el comportamiento fue el motivo principal para investigar técnicas que permitan vulnerar la lógica impuesta.